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OMT-3R半导体检查显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的，作为金相显微镜用户在使用时能够体验其性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装的检测。OMT-3R半导体检查显微镜采用了反射和透射两种照明形式，在反射光照明下可进行明暗场观察和DIC观察、偏光观察。在透射光下作明场观察。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。
OMT-3R半导体检查显微镜特点说明
1． 采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。
2． 拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法，DIC并在
每一观察法中均提供高清晰的图像质量。
3． 采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。
4． WF10×（Φ25）超大视野目镜，长工作距离明暗场金相物镜。
5． 可插DIC微分干涉装置的转换器。
